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美国 IK-TECHNOLOGIES 多探针分析系统

简要描述:美国 IK-TECHNOLOGIES 多探针分析系统:UHV
除了表面分析组件外,LK Technologies还专门设计和构建完整的特高压系统,这些系统通常结合了LK组件和其他制造商的多种表面分析方法。

  • 产品型号:UHV
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-11-23
  • 访  问  量:493

详细介绍

品牌其他品牌应用领域化工,能源,电子,电气,综合

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美国 IK-TECHNOLOGIES 多探针分析系统:UHV 


除了表面分析组件外,LK Technologies还专门设计和构建完整的特高压系统,这些系统通常结合了LK组件和其他制造商的多种表面分析方法。


这些系统的常见元件是精密UHV室,主泵(通常是离子泵),辅助泵(通常是涡轮分子),精密样品操纵器,安装框架和真空计量。客户通常要求的可选组件是快速样品引入系统(加载锁定)和烘烤控制。


请联系LK获取更多信息,并讨论您的自定义系统要求。多探针分析系统是全球实验室提供的一个例子:

美国 IK-TECHNOLOGIES 多探针分析系统多探针分析系统,包括XPS分析,X射线单色仪,半球形分析仪,AES,ISS,多通道HREELS和带有快速样品加载系统的完整样品制备室。


探针分析仪:1.进行1微米内B-U的各元素定量分析 2.20~20万倍扫描图像观察 3.X射线能谱快速定量分析 4.阴极射线致发光分析应用范围: 用于对地质、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、纳米材料等机材料的分析。可解决地质、冶金、有色、材料、机械等领域内的许多科研、生产等重大实际问题。


各种材料的成分、结构解析,包括金属材料、电子材料、表面材料、超硬材料、硅酸盐材料、化工材料、光学材料、生物材料等,如催化剂、焊料、红外窗口、金刚石膜、电子开关材料、光导纤维等的解析。 特种金属及其制品的分析鉴定与纯度分析,超细材料、纳米材料、磁粉的粒度测定。镀层材料的成分与厚度的测定,各类宝玉石的分析与质量评估,金、银、铂贵金属制品的分析与鉴别,各类非金属矿产品的质量评估,生物、医学、农业中的无机材料和有机材料中的无机盐分析等。



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